測量絕緣體的直流漏電流與測量絕緣電阻基本相同。

不同的是直流高壓發(fā)生器漏電測試的電壓一般高于絕緣電阻測試儀的電壓，可以任意調(diào)節(jié)，而絕緣電阻測試儀則不然。因此，在發(fā)現(xiàn)缺陷方面比絕緣電阻測試儀更有效，可以靈敏地反映瓷絕緣的裂紋、夾層絕緣內(nèi)部的水分和局部松動(dòng)斷裂、絕緣油的變質(zhì)、絕緣的碳化。

直流高壓發(fā)生器耐壓試驗(yàn)和漏電流測量的方法雖然不一致，但作用不同。前者用于測試絕緣的絕緣強(qiáng)度，后者用于檢查絕緣狀況。測試電壓相對(duì)較低。因此，直流耐壓對(duì)于發(fā)現(xiàn)一些局部缺陷具有更特殊的意義，目前廣泛用于高壓電機(jī)、電纜、電容器的預(yù)防性試驗(yàn)。同時(shí)與交流耐壓試驗(yàn)相比具有以下特點(diǎn)：

　　1、測試設(shè)備輕巧小巧。對(duì)于電纜線路，如果進(jìn)行交流耐壓測試，每公里的電容器電流將達(dá)到數(shù)安培，需要更大容量的測試設(shè)備。使用直流高壓發(fā)生器進(jìn)行直流耐壓試驗(yàn)時(shí)，只需提供穩(wěn)定后的絕緣漏電流（可高達(dá)毫安級(jí)）。

　　2、可以同時(shí)測量漏電流，直流高壓發(fā)生器直流耐壓試驗(yàn)同時(shí)升壓，通過測量漏電流，更有效地反映絕緣內(nèi)部的集中缺陷。

　　3、絕緣損傷小，直流高壓發(fā)生器對(duì)被測物絕緣損傷小。當(dāng)直流外加電壓過高以致氣隙內(nèi)發(fā)生局部放電時(shí)，放電產(chǎn)生的負(fù)載感應(yīng)的反電場會(huì)導(dǎo)致氣隙內(nèi)的場強(qiáng)減弱，從而抑制局部放電過程。氣隙。如果用高壓試驗(yàn)變壓器進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)，由于電壓不斷變化方向，如氣隙放電，每半波都會(huì)發(fā)生一次局部放電，這種放電往往會(huì)促進(jìn)有機(jī)物的分解和老化。絕緣材料劣化，降低其絕緣性能，使局部缺陷逐漸擴(kuò)大。